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X熒光光譜儀（XRF），由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。XRF 的工作原理是：X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀以其絕對優(yōu)勢，目前占據(jù)了市場份額的主要成分。接下來，小編就給大家分析下這款光譜儀界的“新寵”有哪些優(yōu)缺點。
優(yōu)勢分析：
1.分析速度快。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2.X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
3.非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5.分析精密度高。
6.制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
劣勢分析：
a)難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。
b)對輕元素檢測的靈敏度要低一些。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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